【代理新品】TranSpec Lite 白光干涉膜厚仪：透光膜层品质管控的精准之选

   在有机薄膜、汽车车灯、半导体等高端制造领域，膜层厚度的均匀性与精确度直接决定了产品的最终性能。传统接触式测量易损伤样品、效率低下，已难以满足现代化产线的高节拍需求。

    今天，为您重磅推荐由德国Applied Spectroscopy原厂技术打造的TranSpec Lite白光干涉膜厚仪。作为核心代理产品，它将为您的客户带来非接触、无损、高精度的全新检测体验。

为什么选择 TranSpec Lite？

1. 德国光学内核，数据精准可靠

    仪器搭载德国Carl Zeiss全息凹面衍射光栅分光仪模块，配合美国Welch Allyn 7W微型卤素灯。无移动部件的设计确保了长期使用的稳定性。

• 高精度：测量准确性高达±0.005μm，重复性±0.002μm。

• 高分辨：最高光谱分辨率达2.4nm，绝对波长精度<0.3nm。

2. 非接触无损测量，适配多种场景

    基于白光干涉原理，无需制样，不损伤涂层表面。无论是实验室抽检还是产线全检，都能轻松应对。

• 双层同测：软件支持单次测量同时获取双层膜厚数据（特定机型除外）。

• 广泛量程：光学厚度测量范围覆盖0.8μm至120μm，满足从亚微米光刻胶到厚防护漆的检测需求。

3. 智能软件分析，操作直观高效

配备FTM-ProVis Lite专业软件，内置高精度FFT算法。

• 实时显示干涉光谱、FFT变换及膜厚趋势图。

• 引入柯西色散定理，精确考量折射率变化。

• 支持3D膜厚轮廓成像，直观展示膜层微观结构。

核心参数一览

三大机型，精准匹配客户需求

    针对不同行业的测量痛点，我们提供三种优化配置，助您精准切入市场：

1. TranSpec Lite MC-UVNIR-H（全能型）：~0.8 to 100 μm，宽光谱覆盖，适合大多数透明/半透明单层及双层膜测量。

2. TranSpec Lite MC-NIR-H（厚膜型）：~2 to 120 μm，专为较厚的防护涂层、胶层设计。

3. TranSpec Lite MS-VIS-H（经济型）：~1 to 25 μm，性价比之选，适合可见光范围内的单层膜测量。

典型应用案例

• 汽车车灯制造：全球领先的汽车车灯厂信赖之选。精准监控旋转涂布过程中防护漆的厚度变化，识别中心厚度下降趋势，确保车灯透光率与耐候性。

• 半导体与晶圆加工：精确测量SiO₂、光刻胶等亚微米气相沉积层。10mm²区域内实现纳米级厚度解析，清晰呈现晶圆表面的微观结构。

• 光盘与消费电子：在线涂层测量系统集成方案，通过扫描桥实现动态监测，实时反馈信号至过程控制系统，大幅提升良品率。

投资回报与服务保障

    TranSpec Lite不仅是一台检测仪器，更是提升客户产品竞争力的利器。其对计算机硬件要求低（Intel双核2GHz即可），部署成本低，维护简便。